ATE仪器的测试台内的芯片插座后，打开仪器电源按钮，然后，确定ATE仪器与对讲机芯片连接正常，再开始进行芯片测试，

ATE对芯片测试基本的范围为：芯片引脚的连通性测试，芯片漏电流测试，芯片引脚DC（直流）测试，芯片功能测试，芯片ESD静电测试，芯片老化测试（也就是芯片质量验证）

以及芯片稳定性测试，在温度（零下30度和高温50度）进行测试，确定芯片是否能正常工作…

先是射频PA芯片的引脚的连通性测试，芯片漏电流测试，DC（直流）测试，这是芯片测试的第一步，检测芯片的连通性是否正常，确定芯片的内部电路连通，芯片内部电路是否有缺陷。

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射频PA芯片功能测试合格后，还要需要老化测试范围包括：温度，环境，电压，跌落…，例如电压测试：加速的方式进行测试，把温度突然提高到50度…，外接的电压从正常工作电压3.7V突然提高到9V，进行长达3小时，甚至20小时或者30小时的老化测试，

如果没有任何的芯片和电子电路出现问题，那么，测试合格...。

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RF射频PA芯片测试合格后，那么，RF射频电路的测试也要同步，把RF射频芯片，电阻电容，焊接到PCB主板，利用RF测试仪器安捷伦8960，去测试RF射频PA芯片的性能和功能，包括：

1射频PA发射功率

2射频PA发射工作效率

3射频PA的增益，输出饱和功率

4射频PA的杂散和失真

5射频PA的频宽和调制带宽

6射频PA的输出动态范围

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当然，在对RF射频PA的电子电路进行测试时，如相关参数指标没有达到设定的要求，就需要微调RF射频芯片PA的外围电阻电容的值…这样的话，完全达到了所制定的参数。

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完成了所有的RF射频PA的测试，那么，就要写出Datasheet，把射频PA的芯片测试结果记录下来。然后，客户通过datasheet了解RF射频芯片相关的参数。

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RF射频PA芯片所有的推销的工作完成后，那么，就要正式对外销售了，李飞把RF射频芯片相关参数，以大深市芯片产业有限公司的名义，用邮件发送到世界无线电技术杂志，告知大深市芯片产业有限公司研发出CMOS工艺的手机RF射频功率放大器，参数如下：

1纯正CMOS工艺，

2GSM功率输出：33.5dBm

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